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PSS PAT-56-I(E)
TO56自动盘测系统
DML TO自动测试
PSS TO56自动盘测系统，适用于VCSEL/FP/DFB/DML TOCAN的自动测试，采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO，支持任意引脚封装测试，支持LIV特性测试、光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用，提高工厂生产、测试效率，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。
PSS PAT5606
兼容DML/EML TO自动测试
PSS PAT-46-I(E)
TO46自动盘测系统
支持PIN-TIA、APD TO自动测试
为了提高光器件的可靠性，光器件在TO封装前会经过性能测试，避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。武汉普赛斯TO-46自动测试系统主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。
PSS LDTO3T12801
TO三温测试系统
-40℃/85℃/25℃ TO测试
PSS TO三温测试系统支持TO工业级低温、常温、高温测试，温度控制范围为-40℃～85℃，适用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试，支持器件任意引脚封装测试，支持LIV特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试，每块夹具可装载128颗TO，提高测试产量，系统具有温控快，温度均匀性好，稳定可靠，测试效率高的特点。
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