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可靠性测试

PSS可靠性设备覆盖行业内可靠性实验工艺环节，包含芯片老化、TO老化、模块老化及老化相关的配件；老化设备具备加电、监测、温控、数据计算处理与显示功能；核心加电部分为普赛斯多年经验设计，稳定性高，多路老化，成本优势明显
可靠性测试
COC抽屉式老化

PSS COCBI Series

COC抽屉式老化

夹具控温，支持COC等封装

普赛斯COCBI老化系统为高功率COC老化系统，支持大电流、窄脉冲加电老化，用于COC芯片在高温，稳定电流条件的长时间可靠性实验，支持前光功率检测，软件实时监测老化过程数据，支持用户对芯片进行寿命分析和老化筛选； 整机采用抽屉式布局，最多支持10层，40个老化抽屉，可根据具体的老化规模需求配置老化箱的层数。

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LD集成式老化系统

PSS LDBI13003

LD集成式老化系统

支持DML TO老化，最高3072路

LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

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EML TO老化测试系统

PSS EMLBI11536/21536

EML TO老化测试系统

支持EML TO老化，最高1536路

普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。

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LD台式老化监控电源

PSS ATLD-VI

LD台式老化监控电源

单台支持64路，支持多台级联

硬件支持小电流和大电流两个档位，完美兼容VECSEL和FP/DFB激光器 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率

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APD集成式老化系统

PSS APDBI13002

APD集成式老化系统

支持APD TO老化，最高3072路

APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选，最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件，同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件追溯，能够有效的提升TO生产的效率和可靠性，可以极大的提高器件测试的产量和质量。

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APD台式老化监控电源

PSS APDBI-IV

APD台式老化监控电源

单台支持64路，支持多台级联

普赛斯APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品质。该系统通过给APD提供恒流、PIN提供反偏压，TIA 提供恒压来达到对器件工作老化。同时配合独立客供老化箱可控制器件工作环境温度，达到高温下工作老化的功能。在老化过程中，对器件的TIA工作电流以及APD 电压进行实时监控测试，并对测试数据进行记录，可对老化失效器件进行追述，单台独立老化64颗APD器件。

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