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TO测试

PSS TO测试机针对光通、激光雷达、可见光应用领域的TO封装类型，支持全自动测试，测试夹具与老化工艺的共用，形成一套完整的老化测试解决方案
TO测试
TO56自动盘测系统

PSS PAT-56-I(E)

TO56自动盘测系统

DML TO自动测试

PSS TO56自动盘测系统，适用于VCSEL/FP/DFB/DML TOCAN的自动测试，采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO，支持任意引脚封装测试，支持LIV特性测试、光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用，提高工厂生产、测试效率，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

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TO56自动盘测系统

PSS PAT5606

TO56自动盘测系统

兼容DML/EML TO自动测试

PSS TO56自动盘测系统，适用于VCSEL/FP/DFB/DML TOCAN的自动测试，采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO，支持任意引脚封装测试，支持LIV特性测试、光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用，提高工厂生产、测试效率，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

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TO46自动盘测系统

PSS PAT-46-I(E)

TO46自动盘测系统

支持PIN-TIA、APD TO自动测试

为了提高光器件的可靠性，光器件在TO封装前会经过性能测试，避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。武汉普赛斯TO-46自动测试系统主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

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TO三温测试系统

PSS LDTO3T12801

TO三温测试系统

-40℃/85℃/25℃ TO测试

PSS TO三温测试系统支持TO工业级低温、常温、高温测试，温度控制范围为-40℃～85℃，适用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试，支持器件任意引脚封装测试，支持LIV特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试，每块夹具可装载128颗TO，提高测试产量，系统具有温控快，温度均匀性好，稳定可靠，测试效率高的特点。

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窄脉冲TO测试机

PSS PLS-T-S640

窄脉冲TO测试机

100ns窄脉冲测试，支持TO56、COB等类型

窄脉冲TO测试系统主要应用于TO的LIV、光谱、发散角自动测试，设备支持TO/COB自动上料、自动下料，可兼容客户使用的上下料载具，测试工作台支持温度控制，可实现TO在设定温度下测试；系统全自动运行，稳定高效，方便客户批量测试。 与大功率窄脉冲TO抽屉老化系统配套使用，是一套完整的大功率窄脉冲TO可靠性实验方案，窄脉冲TO测试系统支持老化前后测试和对比，数据存储与分析。

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TO56自动盘测系统

PSS PAT-56-I(E)-RGB

TO56自动盘测系统

支持可见光TO测试

普赛斯可见光TO自动盘测机，能实现TO56自动LIV综合测试、光谱测试，支持TO56任意引脚封装测试，采用一块测试板测试64颗TO56，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。 该系统和我司集成式老化箱配套形成一套完整的可见光TO可靠性实验解决方案、老化板可兼容分拣设备使用，提高工厂生产、测试效率。

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