光通信
激光显示
激光雷达
激光医疗
SEO
LIV综合测试仪
关键词:
PIV智能耦合电源
PSS PIV-X主要用于LD、TOSA、BOSA耦合时的在线监测。系统给OSA器件的LD提供驱动电源,以及实时监测耦合过程中的系列相关性能指标。可监测参数:阈值电流、驱动电流、背光电流、光功率、背光电压等。并在本机显示相关参数,以及P-I 曲线、Im-I曲线、V-I曲线等,也可以外接示波器显示相关波形。
PSS LIV综合测试仪适用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、DML、EML、SOA-EML以及带TEC的碟形器件的温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试,以及光谱特性测试(需要外接光谱仪)。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,体积小、测试速度快、精度高,可以极大的提高器件测试的产量和质量。
探测器耦合测试仪
普赛斯的探测器耦合测试仪(PSS RCML20192),用于APD、PIN-TIA(Vpd/Mon)两种类型的各种脚位顺序ROSA/BOSA器件的耦合生产与测试。本仪器自带光衰模块,可实现快速衰减,同时内置输出监视的高精度光功率计,在衰减的同时可以实时监控输出端口的光功率。且支持外置光模块接口,可外接不同波长模块,为生产ROSA/BOSA器件提供不同耦合光源需求提供便利。 设备内置稳定的APD高压源、恒流源、显示模组、回损测试等功能模块。
不知道如何选择对自己来说好的?
让我们协助您!
我们的专家将在 6 小时内与您联系,满足您更多需求。
新产品
大功率脉冲源
单温载台(四针)芯片测试机
双温载台(四针)芯片测试机
选配发散角测试
DFB(单针)芯片测试机
单温载台(单针)芯片测试机
双温载台(单针)芯片测试机
新资讯
普赛斯CIOE光博会回顾丨圆满告捷,感恩相遇,共赴新程
普赛斯电子丨湖北省标准化学会团体标准《ComboPON 器件测试系统通用规范》正式发布
展会精彩瞬间丨聚焦深圳光博会,带您领略普赛斯风采
展会预告 | 普赛斯电子诚邀您参加CIOE第25届中国国际光电博览会!
乘风破浪·勇赴新程 | 武汉普赛斯乔迁仪式圆满举行
展会邀约 | 普赛斯邀您共鉴 OFC 美国光纤通讯展览会!
产品中心
光芯片测试
VCSEL晶圆测试机
BAR条测试机
Chip测试机
COC测试机
可靠性测试
芯片老化
光通TO老化
激光雷达TO老化
可见光TO老化
老化配件
TO测试
光通TO测试
激光雷达TO测试
可见光TO测试
OSA测试
激光器耦合电源
探测器耦合电源
BOSA综合测试仪
OSA三温测试
OSA测试配件
模块测试
误码仪
时钟恢复
采样示波器
消光比
COB测试机
模块三温测试
模块测试板
通用仪表
源表
光功率计
光衰
光开关
光源
电开关
解决方案
数据中心
接入网
雷达
TO老化和测试
TO老化和窄脉冲测试
高功率BAR条测试
服务支持
常见问题
全球网点
售后服务
下载中心
星空(中国)
公司新闻
行业动态
展会报道
关于普赛斯
公司简介
发展历程
荣誉资质
人才招聘
联系我们
联系方式
在线留言
友情链接
普赛斯仪表
深圳普睿博
联系电话
027-8990 8766
友情链接: