LD集成式老化系统

LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

PIV智能耦合电源

PSS PIV-LS主要用于LD、TOSA、BOSA耦合时的在线监测。系统给OSA器件的LD提供驱动电源，以及实时监测耦合过程中的系列相关性能指标。可监测参数：阈值电流、驱动电流、背光电流、光功率、正向电压等。并在本机显示相关参数，以及P-I 曲线、Im-I曲线、V-I曲线等，也可以外接示波器显示相关波形。

EML TO老化测试系统

普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。

LD台式老化监控电源

硬件支持小电流和大电流两个档位，完美兼容VECSEL和FP/DFB激光器 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率