单温载台（四针）芯片测试机

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

双温载台（四针）芯片测试机

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

选配发散角测试

普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试，温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

DFB（单针）芯片测试机

本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆匹配测试，通过蓝膜顶针剥离机构，吸嘴吸取，机械手分别搬运到高温及常温测试区域，自动摆位，自动测试，分析筛选，机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等机构，配合多轴运动、视觉定位、视觉字符匹配等技术，具有批量生产能力。